光学系カスタム設計

高被写界深度、高解像度、長作動距離などの光学技術を駆使し、顧客要求を超える光学系モニタリング装置を設計・開発いたします。

例えば、AFMを利用する際、カンチレバーを所定の位置に位置決めする作業が発生します。
一般のマイクロ・スコープを利用すると被写界深度が浅いためにカンチレバー先端部と試料を同時に観測することが困難です。
弊社では長年培ってきた光学技術をベースに高被写界深度・長WD・カメラ映像化を実現した光学システムを廉価で供給できる体制を作り上げました。

マイクロプリンティング 装置

マイクロプリンティング 装置

理化学系モニタリング装置

理化学系モニタリング装置

微生物 顕微システム

微生物 顕微システム

ATM(原子間力顕微鏡)アライメント装置

ATM(原子間力顕微鏡)アライメント装置